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老化失效，這是指電阻體的低阻線性化逐步加劇，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點，薄弱點材料融化，形成1k?左右的短路孔后，電源繼續推動一個較大的電流灌入短路點，形成高熱而起火。這種事故通常可以通過一個與壓敏電阻串聯的熱熔接點來避免。熱熔接點應與電阻體有良好的熱耦合，當沖擊電流流過時不會斷開，但當溫度超過電阻體上限工作溫度時即斷開。研究結果表明， 若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發生早期失效， 強度不大的電沖擊的多次作用，也會加速老化過程，使老化失效提早出現。

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壓敏電壓U1mA

壓敏電阻的電流為1mA時所對應的電壓作為I隨U迅速上升的電壓大小的標準，該電壓用U1mA表示，稱為壓敏電壓。壓敏電壓是ZnO壓敏電阻器伏安曲線中預擊穿區和擊穿區轉折點的一個參數，一般情況下是一般情況下是1mA（Φ5 產品為0.1mA）直流電流通過時，產品的兩端的電壓值，其偏差為±0.1%。

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